| 參數名稱 | 參數值 |
|---|---|
| Product Status | Active |
| Logic Type | Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops |
| Supply Voltage | 4.5V ~ 5.5V |
| Number of Bits | 8 |
| Operating Temperature | -55°C ~ 125°C |
| Mounting Type | Surface Mount |
| Package/ Case | 28-CLCC |
| Supplier Device Package | 28-LCCC (11.43x11.43) |
新聞資訊
Texas Instruments 專業邏輯 產品 SNJ54BCT8374AFK
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