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SN74BCT8374ANTG4

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專業邏輯

IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP

參數名稱參數值
Product StatusObsolete
Logic TypeScan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
Supply Voltage4.5V ~ 5.5V
Number of Bits8
Operating Temperature0°C ~ 70°C
Mounting TypeThrough Hole
Package/ Case24-DIP (0.300", 7.62mm)
Supplier Device Package24-PDIP

新聞資訊

Texas Instruments 專業邏輯 產品 SN74BCT8374ANTG4

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