| 參數名稱 | 參數值 |
|---|---|
| Product Status | Obsolete |
| Logic Type | Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops |
| Supply Voltage | 4.5V ~ 5.5V |
| Number of Bits | 8 |
| Operating Temperature | 0°C ~ 70°C |
| Mounting Type | Through Hole |
| Package/ Case | 24-DIP (0.300", 7.62mm) |
| Supplier Device Package | 24-PDIP |
新聞資訊
Texas Instruments 專業邏輯 產品 SN74BCT8374ANT
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